SICK OL1系列是一款全面实现精确轨迹导引的位移测量传感器。OL1传感器因其微型结构而备受青睐，即使机器间距极小仍具有充足的安装空间。凭借 LED 校准辅助装置与集成在 AOD1 评价单元中的光带校准功能，可轻而易举地安装和校准发射与接收单元。OL1 传感器在高度精确的纠偏控制方面极具优势，例如针对电池生产中电极材料的重复精确导引或者用于薄晶片的双张检测。由于储备功率高，OL1 精确测定半透明材料的边缘位置或将薄织线或金属丝可靠导回至正确轨迹。

SICK位移测量传感器OL1产品优势：

1. 微型金属外壳，坚固的微型外壳使其能够用于极其狭小的安装空间，OL1 的宽度仅为 9.6 mm，可以灵活地集成至空间有限的设备中。

2. 集成式 LED 校准辅助装置，传感器头上基于 LED 的校准辅助装置与显示屏参数设置，实现快速调试与简单机器集成。传感器也可选择通过评价单元 AOD1 由外部便捷配置。

3. 微米级精度的厚度测量达到质量优化，凭借 10 mm 光带宽度和高重复精度，OL1 传感器成为满足有限空间中高性能要求的理想选择。无论是极为细小的物体、织线还是卷幅材料：激光级别为 1 的传感器均可实现微米级精度的厚度测量和定位，可检测小至 0.2 mm 的物体，重复精度高达微米级，材料导引高度精确，发射器与接收器的间距可达 300 mm， 确保可靠的流程控制。

4. 高分辨率的 CMOS 接收器具备高重复精度，AOD1 评价单元可选用各种不同接口，并可自定义配置设置与计算功能。

SICK位移测量传感器OL1主要技术参数：

      SICK位移测量传感器OL1因其微型及坚固的外壳使其能在极其狭小的空间中应用，常见可应用于电池电极边缘导引、织线或金属丝的直径与位置检查、晶片处理时的双张检测、电机组件中的通孔测量、压延工艺中薄膜或织物卷幅材料的厚度测量。例如在电池单元的绕制流程定位监控中，对电极和隔膜必须精准地进行定位，传感器OL1 与评价单元 AOD1 共同测量边缘位置，精度可以达到微米级；由于构型极小，可以直接置于绕制单元前方。

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